CAMSIZER P4顆粒分析儀

功能原理

使用動態圖像分析原理（ISO 13322-2）。樣品通過振動給料器輸送到測量場，在這里顆粒物落在平面光源和兩個CCD攝像機之間。投影的粒子陰影以每秒超過60張圖像的速度記錄下來并進行分析。這樣，幾乎就記錄并評估了散裝物料流中的每個單個顆粒。因此，無需切換測量范圍或進行調整，就可以*其準確地測量20 μm至30 mm的各種顆粒。

由于其*短的曝光時間，新穎的LED頻閃光源可以產生非常清晰的圖像，并且可以無失真地確定投影區域。鮮明的對比度可同時使顆粒的表面結構細節幾乎像通過顯微鏡看到一樣。閃爍的頻率很高，以至于肉眼看不到頻閃。

擁有獨特的磚利雙攝像頭系統使用顆粒分析儀可以獲得很高的銳利深度，從而在整個測量范圍內獲得*高的精度。變焦攝像頭可提供*精細范圍的*大分辨率，而基本攝像頭還可以記錄較大的顆粒，并保證結果的高度統計確定性。即使只有相對少量的樣品，也可以確保CAMSIZER測量結果的出色重現性。結果至少保存在3,000個大小級別中

產品優勢

• 硬件
• 尺寸范圍從20 μm到30 mm
• 每次測量同時測量全尺寸范圍
• 篩分分析的出色可比性，也適用于多峰分布
• 測量時間非常短（2-3分鐘）
• 2臺CCD相機，每張30 fps和1.3 Mpixel
• 高亮度，長壽命的脈沖LED光源
• 軟件
• 優化的直觀軟件
• 同時分析粒徑，形狀，數量，密度和透明度
• 粒子庫功能：用于所有粒子的圖像和特征的數據庫
• 3維尺寸和形態參數的3D云表示
• 圓度和球形度的上等形狀參數（ISO13503-2和API RP 56/58/60）
• 多種語言版本（英語，法語，西班牙語，中文，俄語，德語和許多其他語言）
• 一般：
• 詳細的粒度分析-結果保存在3,000多個粒度等級中
• *高的準確性和可重復性
• 無接觸，無損測量
• 校準秒
• 操作簡單，防止操作錯誤
• 受密碼保護的儀器設置
• 自動測量程序
• 堅固的設計，對灰塵和振動不敏感
• 自清潔，無磨損，免維護
• 比篩分分析省時省力

技術數據

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