Nanotrac Wave II Zeta電位分析儀具有對(duì)傳統(tǒng)DLS的增強(qiáng)功能,它采用了Reference Beating技術(shù),可以放大返回光電探測(cè)器的信號(hào),在測(cè)量粒度,Zeta電位,分子量和膠體系統(tǒng)濃度方面具有****的準(zhǔn)確性。
Nanotrac Wave II Zeta電位分析儀
Nanotrac Wave II通過增強(qiáng)的光信號(hào),新穎的探針技術(shù)和**的算法為用戶提供了**的顆粒分析能力。無論您的材料是ppm還是接近成品,Wave II都能對(duì)亞納米到幾微米范圍內(nèi)的材料進(jìn)行快速,靈敏和準(zhǔn)確的測(cè)量。
Nanotrac Wave II是一種測(cè)量系統(tǒng),用于直接自動(dòng)測(cè)量電泳遷移率和布朗運(yùn)動(dòng)以及由此產(chǎn)生的Zeta電勢(shì)和粒徑。
Microtrac MRB是顆粒分析技術(shù)的先驅(qū),開發(fā)DLS系統(tǒng)已有30多年的歷史。Nanotrac Wave II是*新一代的亞微米粒度和Zeta電勢(shì)分析儀。Nanotrac Wave II的新的設(shè)計(jì)提供了可靠的技術(shù),可實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量速度,小于0.8 nm的粒徑測(cè)量,更高的精度和準(zhǔn)確性,所有這些都結(jié)合在緊湊的動(dòng)態(tài)光散射分析儀中,無需移動(dòng)光學(xué)組件。廣泛的軟件包(無許可證)根據(jù)ISO 22412計(jì)算分析數(shù)據(jù),并根據(jù)CFR21 Part 11批準(zhǔn)。
Nanotrac系列的測(cè)量原理基于180°外差-后向散射布置中的動(dòng)態(tài)光散射(DLS)。在這種設(shè)置中,一部分激光束被添加到散射光中。這就像散射光的光學(xué)增強(qiáng)一樣。粒度范圍為0.8至6,500納米。與傳統(tǒng)的DLS相比,Microtrac MRB的參考拍打可將光信號(hào)增加100到1,000,000倍。增強(qiáng)的光信號(hào)使用戶能夠在市場(chǎng)上*寬的濃度范圍內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量單模和多模分布。
特征
- 增強(qiáng)的光信號(hào),可對(duì)參考拍打提供**的精度
- 獨(dú)特的探頭設(shè)計(jì),固定的光學(xué)器件和180°背向散射采集功能,可在從ppm到接近固體(40%w / v)的*寬濃度范圍內(nèi)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的測(cè)量
- 無需“先驗(yàn)”或預(yù)先了解粒度分布
- 通過消除電滲流引起的誤差,能夠測(cè)量更接近等電點(diǎn)的Zeta電位。ZP測(cè)量范圍為-200至+ 200mV
- 用戶可選的數(shù)據(jù)呈現(xiàn)模式:
- 分布–標(biāo)準(zhǔn)體積粒徑分布
- 舊版-從“舊版”工具過渡時(shí)確保數(shù)據(jù)一致性
- 模式–同時(shí)測(cè)量尺寸和濃度
- 可移動(dòng)樣品池–特氟龍或不銹鋼
- 所需樣品量為150 μl –非常適合高價(jià)材料
- 珀?duì)柼麥囟瓤刂蒲b置
- 多個(gè)流通池選項(xiàng)–可以連接滴定儀。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
- 無需“先驗(yàn)”粒度分布知識(shí),只需加載材料并運(yùn)行即可
- 簡(jiǎn)便的SOP設(shè)置和管理,非常適合跨多個(gè)班次管理用戶
- 顯示比色皿和樣品池的清潔度,包括警報(bào)和錯(cuò)誤消息
- 提供多種翻譯語言
- 廣泛的數(shù)據(jù)庫
- 符合FDA 21 CFR Part 11
- 統(tǒng)計(jì)分析
- 手動(dòng)選擇材料的動(dòng)態(tài)粘度值–確保準(zhǔn)確性和一致性(根據(jù)Stokes-Einstein)
- 無需設(shè)置零–空白測(cè)量?jī)?nèi)置于軟件中
- 用戶收到有關(guān)規(guī)范通過或失敗的通知
- 實(shí)時(shí)或召回的數(shù)據(jù)庫趨勢(shì)圖
- 用戶定義的數(shù)據(jù)報(bào)告和計(jì)算
- 多種數(shù)據(jù)導(dǎo)出選項(xiàng)
電泳:
設(shè)置在激光散射光(180°)中,用于濃縮和稀釋的顆粒分散體。通過直接分析布朗運(yùn)動(dòng)來分析電泳遷移率,Zeta電位(根據(jù)Smoluchowski)以及粒徑分布的軟件。
ZETA電位范圍:
-200mV bis + 200mV,Zeta電位重復(fù)性+/- 1 mV(與PS Latex標(biāo)準(zhǔn)顆粒150至500 nm有關(guān))
應(yīng)用實(shí)例
制藥/生物技術(shù),化學(xué),食品/飲料,塑料/聚合物,涂料/覆蓋層,油墨,粘合劑,學(xué)術(shù)研究
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!