Z掃描技術是一種簡單且流行的實驗技術，用于測量材料的強度相關非線性磁化率。
Holmarc的Z掃描系統（型號：HO-ED-LOE-03）是z掃描技術的簡單實現，可用于表征光學材料。
與z-掃描相關的兩個可測量量是非線性吸收和非線性折射。這些參數與三階非線性磁化率的虛部和實部相關，并提供有關材料特性的重要信息。
特征
圖Z-掃描透射率與Z的關系的理論曲線