Bettersize3000plus動態雙路遠心顯微成像粒度儀是一種激光+圖像二和一的粒度粒形分析系統。它的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統，成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統，可同步進行粒度和粒形分析，實現了一機兩用。雙鏡頭斜入射光學系統是由大功率泵浦偏振激光器、進口鏡頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由于采用了高性能的鏡頭和獨特的激光斜入射結構，在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收——這是百特原創的磚利技術。

 動態雙路遠心顯微成像系統并聯在激光散射系統中，可隨時拍攝流動中的顆粒圖像并同時進行粒形分析，在得到粒度分布的同時，還能同時得到圓形度、長徑比、粗糙度等粒形參數。更重要的是，這個顯微成像系統能準確捕捉到樣品中的*大顆粒，實現了D100的有效測量，彌補了激光粒度儀無法測試D100的缺憾，為鋰電池等領域提供了準確測試D100的可靠手段。

主要技術指標與性能

• 激光散射系統

• 顯微圖像系統

三、主要應用領域

• 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
• 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
• 其它粉體：河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種乳濁液等。

四、突出特點

• 斜入射雙鏡頭技術：百特磚利技術，采用激光斜入射技術，結合前向、側向和后向散射光探測技術，達到全角度測量，擴大了測量范圍，提升了細顆粒端的測量精度，提升了分辨率。
• 顯微圖像與激光散射二合一技術：激光法測試細顆粒具有優勢，圖像法測試粗顆粒準確度高，采用激光與圖像聯合測試屬于強強聯合，測試結果準確性更高，同時可進行粒形分析。
• 樣品折射率測試技術：對未知折射率的樣品可以先測量折射率，包括實部和虛部，保證了粒度測試的準確性。
• 自動循環分散與自動測試技術：防干燒超聲波分散器、離心循環泵、自動進水系統、自動排水和溢水系統，適用于所有樣品，保證了樣品充分分散，保證了測試的準確性和重復性。

五、良好的重復性

• 穩定有效的分散系統。
• 激光器、探測器、信號傳輸系統穩定可靠。
• 自動對中系統使儀器始終保持在理想狀態。
• 采樣速度達3500次/秒，大量數據有效減少少數異常數據對重復性的影響。

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