簡單介紹
樣品架HO-SHEM-01便于在電磁體的兩*之間放置樣品,例如具有霍爾效應的晶體或薄膜。它還具有彈簧加載的彈簧針觸頭,可在樣品表面的四個點進行電接觸。將這些觸點作為四個BNC連接器取出,以向樣品施加電壓或電流,或執行電壓或電流測量。與BNC連接器平行,也可以通過單列塑料連接器獲得觸點。
產品描述
樣品架HO-SHEM-01便于在電磁體的兩*之間放置樣品,例如具有霍爾效應的晶體或薄膜。它還具有彈簧加載的彈簧針觸頭,可在樣品表面的四個點進行電接觸。將這些觸點作為四個BNC連接器取出,以向樣品施加電壓或電流,或執行電壓或電流測量。與BNC連接器平行,也可以通過單列塑料連接器獲得觸點。
鍍金觸點適用于測量非常低的電壓和電流。樣本大小可以從5毫米x 5毫米到20毫米x 20毫米不等。樣品厚度可以從0.5毫米到2.5毫米不等。
規格
針數:4
BNC連接器數:4
附加連接器:4針SIP連接器
接觸機理:彈簧式Pogo Pin鍍金
*小樣品尺寸:5毫米x 5毫米x 0.5毫米(長x寬x厚)
*大樣品尺寸:20毫米x 20毫米x 2.5毫米(長度x寬度x厚度)
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