霍爾馬克(Holmarc)推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創xin型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設備。HOLMARC A216測試站提供標準化的測試解決方案,以適合廣泛的旋光度測量應用。模塊化硬件設計使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動進行液體,固體和薄膜樣品的測量。
霍爾馬克(Holmarc)推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創xin型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設備。HOLMARC A216測試站提供標準化的測試解決方案,以適合廣泛的旋光度測量應用。模塊化硬件設計使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動進行液體,固體和薄膜樣品的測量。
設計用于磁光材料的研究和測試,包括鐵磁和亞鐵磁薄膜和材料的磁特性。測量包括超薄磁性膜和多層的磁滯回線,橢圓率測量,介電材料的薄膜厚度測量,折射率,Δ和psi測量等。系統可以在*性,縱向和橫向配置下運行。
| 光源 | : | 光譜鹵素燈,氘燈/鹵素燈或氙弧燈 |
| 單色儀 | : | Quasar 300F Czerny-Turner類型 |
| 波長范圍 | : | 350-900納米 |
| 準直聚焦鏡 | : | 直徑50 mm,300 F |
| 光學光柵 | : | 1200升/毫米 |
| 光譜色散 | : | 2.6納米/毫米 |
| 光柵尺寸 | : | 50 x 50毫米 |
| 優良衍射效率 | : | 45%-65% |
| 狹縫寬度 | : | 0?3 mm連續可調 |
| 解析度 | : | 0.1納米 |
| 波長精度 | : | 0.2納米 |
| 波長重復性 | : | 0.1納米 |
| 雜散光 | : | 10 -3 |
| 線性色散的倒數 | : | 2.7毫米 |
| 譜線的半寬度 | : | 0.2納米@ 586納米 |
| *化分析法 | : | 旋轉分析方法 |
| ** | : | 步進電機控制的自動定位 |
| 光斑直徑 | : | 1-5毫米 |
| 薄膜支架樣品量 | : | 1-12毫米 |
| (可應要求提供定制架) | ||
| 比色杯 | : | 10毫米路徑長度石英比色皿 |
| 樣品室選項 | : | 高/低溫樣品架 |
| 樣品進料單元 | : | 步進電機控制自動定位系統 |
| 電磁單元 | : | PC控制恒流運行 |
| 冷卻 | : | 水冷 |
| *高 磁場 | : | 1.75特斯拉@ 12毫米*距 |
| *小 現場檢測 | : | 1高斯 |
| 磁場精度 | : | ±0.05% |
| 現場檢測 | : | 基于霍爾探頭(基于PC的現場測量) |
| 磁場反饋 | : | 霍爾元素 |
| 冷水機 | : | 5?25°C冷凍水(用于冷卻電磁鐵) |
| 體積 | : | 2升/分鐘 |
| 電磁電源 | : | 雙*型(*大±90 V / 5A) |
| 電磁電源 | : | 2.5 kVA交流220V 50Hz |
| 控制單元 | : | 1 kVA交流220V 50Hz |
| 軟件 | : | Spectra ORMS軟件 |
性能
旋光度測量分辨率:±0.009度
檢測靈敏度:0.009度(透明度大于20%)。
穩定性:0.03度(透明度大于20%)。
橢圓度測量:±0.01度。
旋光度測量范圍:±90度。
測量波長范圍:350-900 nm
光譜帶寬:1 nm(可變帶通至10nm)
*高 磁場:17,500高斯
*小 場檢測:1高斯
磁場精度:±0.05%
測量項目或測量具有法拉第效應的薄膜,晶體,液體等
透明固體和液體的測量維爾德常數
法拉第旋轉/橢圓角
*角Kerr旋轉/橢圓率角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉角特性
法拉第旋轉角度與波長色散特性
法拉第旋轉角度與熱依賴性的關系(可選)
旋光度
膜厚
折光率
吸收系數
光電導率
相速度
組索引
布魯斯特角
空氣中的折射率
摩爾折射率
光子能量
規范動量
動量
組速度
PSI-Delta
Epsilon 1和2
還可以通過在本機上添加HV電源來研究透明物質在外部電場下的光學活性。
定值模型
輸入價值模型
柯西系數模型
Sellmeier系數模型
Cauchy和Sellmier模型的組合
德魯系數
洛倫茲-德魯德系數
布倫德爾-博曼系數
足立系數
柯西·洛倫茲系數
非晶色散系數
柯西吸收系數
Sellmeier Lorentz Drude模型系數
柯西·烏爾巴赫系數