Fizeau干涉儀是*簡單，用途*廣泛的干涉儀之一，在平面和球形表面的常規測量中很受歡迎。它用于測量光學組件，例如平板，棱鏡，透鏡，或精密金屬零件，例如軸承，密封面或拋光陶瓷。可以使用靜態條紋分析軟件進行測量。干涉儀基本上帶有高光學質量（λ/ 20）參考平面。測試表面的反射會干擾參考平面產生的條紋的反射。條紋的形狀和質量取決于測試平板的表面質量。使用高分辨率CCD相機對條紋進行數字化處理。
光學設置
空間濾光片組件和正消色差透鏡用于擴展和準直He-Ne激光。在準直透鏡之后，固定參考平面。光線從參考平面反射回去。立方體分束器放置在擴束器附近，該反射鏡將反射的光反射到變焦鏡頭和CCD。該反射的一部分落在用于對準模式的照相機1上。來自測試樣品的反射光也會回溯相同的路徑并產生干擾。